几何量公差配合与技术测量(第二版)

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  • ISBN:978-7-5478-2495-5/TG.75
  • 作者:刘让贤 主编
  • 定价:¥37 元
  • 出版时间:2017-02-01
  • 版次:02
  • 印次:06
  • 装帧:
  • 纸张:
  • 开本:16
  • 字数:
  • 页数:
       刘让贤主编的《几何量公差配合与技术测量(应 用型本科适用第2版)》围绕几何量测量技术、光滑 圆柱的尺寸公差与配合、几何公差与几何误差检测等 核 心知识,主要介绍了光滑圆柱的尺寸公差与配合、几 何量测量技术、几何公差与几何误差检 测、表面粗糙度轮廓及其检测、光滑限量规、滚动 轴承的公差与配合、圆锥公差与检测、圆 柱螺纹公差与检测、圆柱齿轮公差与检测、键和花键 联结的公差与检测等内容,较为系统地 介绍了几何量公差配合与技术测量的主要知识。各章 后均附有思考题与习题。本书表述新 颖,通俗易懂,例题颇多,方便自学。此次为修订再 版。
       本书可作为高等职业技术学院、职工大学的机械 设计与制造、模具设计与制造、数控技 术、机械制造与自动化、机电一体化技术等专业的教 材,也可供普通高等工科院校的师生和 从事机械设计、机械制造工作的工程技术人员阅读参 考,还可作为机械制造业从业人员的自 学用书。
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